Microscopio Estereoscópico Binocular de 7X-50X, Mechanic D75S-B11

Características:

• Potencia de ampliación de zoom de 7X a 50X con imágenes nítidas y definidas
• Amplio campo de visión* Soporte de pilar totalmente metálico y resistente
• Alta resolución con gran planitud y contraste, brindando imágenes nítidas y claras.
• Imágenes estéreo nítidas y verticales con un amplio campo de visión
• Imágenes de microscopio de co-verdadero originales y nítidas
• Gran distancia de trabajo Soporte de mesa robusto totalmente metálico
• La alineación precisa reduce la fatiga visual durante períodos de visualización más prolongados.
• Elementos de vidrio óptico completo
• Distancia interpupilar ajustable
• Soporte ajustable, rango de elevación: 50 mm; fácil de operar
• Cabezal de visualización: Cabezal binocular inclinado a 45 grados, lente objetivo de aumento continuo 6,5X-67X, distancia interpupilar 54-76 mm, visibilidad bilateral ajustable
• Ocular: WF10X/22 mm Ocular alto
• Distancia efectiva: 100 mm, el uso de lente objetivo auxiliar se puede extender de 30 mm a 287 mm
• Aumento: 7X-50X

Especificaciones:

• Nombre del producto: Microscopio estereoscópico binocular de grado industrial
• Modelo del producto: D75S-B11
• Tamaño del producto: 195 x 253 x 225 mm
• Aumento: Estándar 0,7-4,5X (Opcional 2,1X-180X)
• Objetivo Len: 0.7X-50X
• Ocular: WF10X22 Ocular alto
• Cabezal de observación: Cabezal de observación binocular con inclinación de 45°, rango de ajuste del espaciado pupilar del ocular: 54-76 mm; Agudeza visual binocular ajustable.
• Distancia de trabajo: La distancia efectiva es de 100 mm y la compra de un lente objetivo auxiliar se puede ampliar a 30-287 mm.
• Soporte de enfoque: elasticidad ajustable del volante de enfoque, rango de elevación 50 mm
• Tamaño de la base: 195*256*20 mm
• Fuente de luz LED: Fuente de luz blanca fría de alto brillo, se puede ajustar libremente
• Campos aplicables: Enseñanza, demostración, procesamiento y reparación de señales electrónicas de PCB de teléfonos móviles, ensamblaje de componentes, detección de componentes electrónicos.